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日本Otsuka顯微分光膜厚儀OPTM SERIES 頭部集成了薄膜厚度測(cè)量所需功能 通過顯微光譜法測(cè)量高精度絕對(duì)反射率（多層膜厚度，光學(xué)常數(shù)） 1點(diǎn)1秒高速測(cè)量 顯微分光下廣范圍的光學(xué)系統(tǒng)（紫外至近紅外） 區(qū)域傳感器的安全機(jī)制 易于分析向?qū)В鯇W(xué)者也能夠進(jìn)行光學(xué)常數(shù)分析 獨(dú)立測(cè)量頭對(duì)應(yīng)各種inline客制化需求 支持各種自定義
日本Otsuka顯微分光膜厚儀OPTM SERIES 頭部集成了薄膜厚度測(cè)量所需功能 通過顯微光譜法測(cè)量高精度絕對(duì)反射率（多層膜厚度，光學(xué)常數(shù)） 1點(diǎn)1秒高速測(cè)量 顯微分光下廣范圍的光學(xué)系統(tǒng)（紫外至近紅外） 區(qū)域傳感器的安全機(jī)制 易于分析向?qū)В鯇W(xué)者也能夠進(jìn)行光學(xué)常數(shù)分析 獨(dú)立測(cè)量頭對(duì)應(yīng)各種inline客制化需求 支持各種自定義
